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線照射効果八木 敏明; 森田 洋右; 瀬口 忠男; 大和 仁*; 米本 広憲*; 楠 晋*
DEI-95-128, 0, p.39 - 48, 1995/12
代表的なポリイミド、ポリアミドイミド及び変成ポリヒダントインワニスについて、高温、窒素雰囲気下及び室温、空気中での大線量照射における耐放射線性評価を絶縁破壊電圧、自己径巻付ピンホール、tan
の温度変化を調べて行った。高温(250
C)、窒素雰囲気下の照射では3種類のワニスとも、架橋反応が進行し、tan曲線及びガラス転移温度は高温側に変化する。高温照射(N
中)での耐放射線性はポリイミドで100MGy、ポリアミドイミドで30MGy、変成ポリヒダントインで約10MGy有することがわかった。室温、空気中照射では高温照射に比べ耐放射線性は1/10以下に低下する。これらのことから、高温の特に窒素などの不活性ガス雰囲気では高分子有機材料の耐放射線性は室温、空気中照射に比べ、著しく良くなることが明らかとなった。
森田 洋右; 瀬口 忠男; 吉田 健三; 山本 康彰*; 柳生 秀樹*
EIM-84-129, p.9 - 18, 1984/00
近年、ポリイミド系を始めとする新たな高分子絶縁材料が開発され、利用されるようになってきた。しかし、これらの材料の耐放射線性試験は一般に、高線量率の線、あるいは電子線照射で行なわれており、低線量率で長期間(例えば、数百rad/h,数十年)に相当する試験はほとんど行なわれていない。本研究では各種耐熱絶縁ワニス(ポリイミド,ポリエステルイミド,ポリアミドイミド,変性ポリエステル系)をえらび、これらに低線量率照射を模擬する酸素加圧下照射(酸素圧、7kg/cm
G,30kg/cmG)を行い、ワニスの照射劣化を主に電気特性やゲル分率によって評価した。また、放射線の他に熱,熱水蒸気を組合せた複合劣化試験を行ないワニスの劣化挙動も調べた。これらの結果、ポリイミドワニスが優れた耐放射線性を低線量率照射条件においても示すことが明らかとなった。